A. Abderrahman, E. Cerny et Bozena Kaminska
Communication écrite (1997)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
|---|---|
| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30741/ |
| Nom de la conférence: | 1997 15th VLSI Test Symposium |
| Lieu de la conférence: | Monterey, CA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1997-04-27 - 1997-05-01 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/vtest.1997.600241 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/vtest.1997.600241 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:12 |
| Citer en APA 7: | Abderrahman, A., Cerny, E., & Kaminska, B. (avril 1997). CLP-based multifrequency test generation for analog circuits [Communication écrite]. 1997 15th VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1997.600241 |
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