Yves Gagnon, Yvon Savaria, Michel Meunier
et Claude Thibeault
Communication écrite (1997)
Un lien externe est disponible pour ce document| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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| Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/30459/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1997) |
| Lieu de la conférence: | Paris, Fr |
| Date(s) de la conférence: | 1997-10-20 - 1997-10-22 |
| Maison d'édition: | IEEE Comp Soc |
| DOI: | 10.1109/dftvs.1997.628321 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.1997.628321 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:21 |
| Citer en APA 7: | Gagnon, Y., Savaria, Y., Meunier, M., & Thibeault, C. (octobre 1997). Are defect-tolerant circuits with redundancy really cost-effective? Complete and realistic cost model [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1997), Paris, Fr. https://doi.org/10.1109/dftvs.1997.628321 |
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