I. T. Sylla, M. Slamani, Bozena Kaminska, F. M. Hossein et P. Vincent
Communication écrite (1998)
Un lien externe est disponible pour ce documentRenseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique |
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Département: |
Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/29299/ |
Nom de la conférence: | 16th IEEE VLSI Test Symposium |
Lieu de la conférence: | Monterey, CA, USA |
Date(s) de la conférence: | 1998-04-26 - 1998-04-30 |
Maison d'édition: | IEEE Comput. Soc |
DOI: | 10.1109/vtest.1998.670875 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/vtest.1998.670875 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:23 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:10 |
Citer en APA 7: | Sylla, I. T., Slamani, M., Kaminska, B., Hossein, F. M., & Vincent, P. (avril 1998). Impedance mismatch and lumped capacitance effects in high frequency testing [Communication écrite]. 16th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA. https://doi.org/10.1109/vtest.1998.670875 |
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