In-situ high-temperature scanning tunneling microscopy studies of two-dimensional island decay kinetics on atomically flat smooth TiN(001)

Kodambaka, S.; Petrova, V.; Vailionis, P.; Desjardins, Patrick; Cahill, D. G.; Petrov, I.; Greene, J. E.; Kodambaka, S.; Petrova, V.; Vailionis, P.; Desjardins, Patrick; Cahill, D. G.; Petrov, I.; Greene, J. E.

In-situ high-temperature scanning tunneling microscopy studies of two-dimensional island decay kinetics on atomically flat smooth TiN(001)

S. Kodambaka, V. Petrova, P. Vailionis, Patrick Desjardins , D. G. Cahill, I. Petrov, J. E. Greene

Article de revue (2000)

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Renseignements supplémentaires:

Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux

Département:

Département de génie physique

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/28080/

Titre de la revue :

Surface Review and Letters ( vol. 7 , no 05n06 )

Maison d'édition:

World Scientific

DOI:

10.1142/s0218625x00000816

URL officielle:

https://doi.org/10.1142/s0218625x00000816

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:28080

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:22

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:04

Citer en APA 7:

Kodambaka, S., Petrova, V., Vailionis, P., Desjardins, P., Cahill, D. G., Petrov, I., & Greene, J. E. (2000). In-situ high-temperature scanning tunneling microscopy studies of two-dimensional island decay kinetics on atomically flat smooth TiN(001). Surface Review and Letters, 7(05n06), 589-593. https://doi.org/10.1142/s0218625x00000816

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