In-situ high-temperature scanning tunneling microscopy studies of two-dimensional island decay kinetics on atomically flat smooth TiN(001)

S. Kodambaka, V. Petrova, P. Vailionis, Patrick Desjardins, D. G. Cahill, I. Petrov et J. E. Greene

Article de revue (2000)

Un lien externe est disponible pour ce document

Renseignements supplémentaires:	Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux
Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/28080/
Titre de la revue:	Surface Review and Letters (vol. 7, no 05n06)
Maison d'édition:	World Scientific
DOI:	10.1142/s0218625x00000816
URL officielle:	https://doi.org/10.1142/s0218625x00000816
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:16

Citer en APA 7:	Kodambaka, S., Petrova, V., Vailionis, P., Desjardins, P., Cahill, D. G., Petrov, I., & Greene, J. E. (2000). In-situ high-temperature scanning tunneling microscopy studies of two-dimensional island decay kinetics on atomically flat smooth TiN(001). Surface Review and Letters, 7(05n06), 589-593. https://doi.org/10.1142/s0218625x00000816
APA 7 (HTML)ASCII CitationAtomBibTeXDOIsDublin CoreEndNote (.ENW)MARC (ISO 2709/UTF-8) (.MRC)MARC (UTF-8) (.MRK8)MARC XMLMPEG-21 DIDLMultiline CSVOAI-ORE Resource Map (Atom Format)OPENAIREOpenURL ContextObjectOpenURL ContextObject in SpanRDF+N-TriplesRDF+N3RDF+XMLReferReference Manager (.RIS)Répertoire des publications (EndNote)Simple Metadata

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document