S. Kodambaka, V. Petrova, P. Vailionis, Patrick Desjardins
, D. G. Cahill, I. Petrov et J. E. Greene
Article de revue (2000)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/28080/ |
| Titre de la revue: | Surface Review and Letters (vol. 7, no 05n06) |
| Maison d'édition: | World Scientific |
| DOI: | 10.1142/s0218625x00000816 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1142/s0218625x00000816 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:09 |
| Citer en APA 7: | Kodambaka, S., Petrova, V., Vailionis, P., Desjardins, P., Cahill, D. G., Petrov, I., & Greene, J. E. (2000). In-situ high-temperature scanning tunneling microscopy studies of two-dimensional island decay kinetics on atomically flat smooth TiN(001). Surface Review and Letters, 7(05n06), 589-593. https://doi.org/10.1142/s0218625x00000816 |
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