B. Nicolescu, Yvon Savaria
et R. Velazco
Communication écrite (2003)
Un lien externe est disponible pour ce document
| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/25615/ |
| Nom de la conférence: | 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003) |
| Lieu de la conférence: | Boston, MA, United states |
| Date(s) de la conférence: | 2003-11-03 - 2003-11-05 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/dftvs.2003.1250159 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250159 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:05 |
| Citer en APA 7: | Nicolescu, B., Savaria, Y., & Velazco, R. (novembre 2003). SIED: software implemented error detection [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250159 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
