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SIED: software implemented error detection

B. Nicolescu, Yvon Savaria et R. Velazco

Communication écrite (2003)

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Département: Département de génie électrique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/25615/
Nom de la conférence: 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003)
Lieu de la conférence: Boston, MA, United states
Date(s) de la conférence: 2003-11-03 - 2003-11-05
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/dftvs.2003.1250159
URL officielle: https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250159
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:20
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:05
Citer en APA 7: Nicolescu, B., Savaria, Y., & Velazco, R. (novembre 2003). SIED: software implemented error detection [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250159

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