Michelle L. La Haye, Glenn H. Chapman, Cory Jung, D. Y. Cheung, S. Djaja, Yves Audet
Communication écrite (2004)
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Département:
ISBN:
0769522416
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2004)
Lieu de la conférence:
Cannes, France
Date(s) de la conférence:
2004-10-11 - 2004-10-13
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:24895
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:19
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:59
Citer en APA 7:
La Haye, M. L., Chapman, G. H., Jung, C., Cheung, D. Y., Djaja, S., & Audet, Y. (octobre 2004). Characteristics of fault-tolerant photodiode and photogate active pixel sensors (APS) [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2004), Cannes, France. https://doi.org/10.1109/dftvs.2004.1347825
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