Michelle L. La Haye, Glenn H. Chapman, Cory Jung, D. Y. Cheung, S. Djaja et Yves Audet
Communication écrite (2004)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/24895/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2004) |
| Lieu de la conférence: | Cannes, France |
| Date(s) de la conférence: | 2004-10-11 - 2004-10-13 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/dftvs.2004.1347825 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.2004.1347825 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:19 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:04 |
| Citer en APA 7: | La Haye, M. L., Chapman, G. H., Jung, C., Cheung, D. Y., Djaja, S., & Audet, Y. (octobre 2004). Characteristics of fault-tolerant photodiode and photogate active pixel sensors (APS) [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2004), Cannes, France. https://doi.org/10.1109/dftvs.2004.1347825 |
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