A. Abderrahman, Yvon Savaria
, Abdelhakim Khouas et Mohamad Sawan
Communication écrite (2007)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/22342/ |
| Nom de la conférence: | 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems |
| Lieu de la conférence: | Marrakech, Morocco |
| Date(s) de la conférence: | 2007-12-11 - 2007-12-14 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/icecs.2007.4510936 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510936 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:16 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:01 |
| Citer en APA 7: | Abderrahman, A., Savaria, Y., Khouas, A., & Sawan, M. (décembre 2007). New Analog Test Metrics Based on Probabilistic and Deterministic Combination Approaches [Communication écrite]. 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, Marrakech, Morocco. https://doi.org/10.1109/icecs.2007.4510936 |
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