A. Abderrahman, Yvon Savaria
, Abdelhakim Khouas et Mohamad Sawan
Communication écrite (2007)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/22341/ |
| Nom de la conférence: | IEEE Northeast Workshop on Circuits and Systems (NEWCAS 2007) |
| Lieu de la conférence: | Montréal, Québec |
| Date(s) de la conférence: | 2007-08-05 - 2007-08-08 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/newcas.2007.4488018 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/newcas.2007.4488018 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:16 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:01 |
| Citer en APA 7: | Abderrahman, A., Savaria, Y., Khouas, A., & Sawan, M. (août 2007). Accurate testability analysis based-on multi-frequency test generation and a new testability metric [Communication écrite]. IEEE Northeast Workshop on Circuits and Systems (NEWCAS 2007), Montréal, Québec. https://doi.org/10.1109/newcas.2007.4488018 |
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