Belgacem Bettayeb, Philippe Vialletelle, Samuel Bassetto
, Michel Tollenaere
Communication écrite (2010)
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Nom de la conférence:
13th ARCSIS Technical & Scientific Meeting, Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs
Lieu de la conférence:
Rousset, France
Date(s) de la conférence:
2010-11-18 - 2010-11-19
Maison d'édition:
ARCSIS
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:18622
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:13
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:21
Citer en APA 7:
Bettayeb, B., Vialletelle, P., Bassetto, S., & Tollenaere, M. (novembre 2010). Operational risk evaluation and control plan design [Communication écrite]. 13th ARCSIS Technical & Scientific Meeting, Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs, Rousset, France.
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