Belgacem Bettayeb, Philippe Vialletelle, Samuel Bassetto
et Michel Tollenaere
Communication écrite (2010)
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/18622/ |
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| Nom de la conférence: | 13th ARCSIS Technical & Scientific Meeting, Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs |
| Lieu de la conférence: | Rousset, France |
| Date(s) de la conférence: | 2010-11-18 - 2010-11-19 |
| Maison d'édition: | ARCSIS |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:13 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:56 |
| Citer en APA 7: | Bettayeb, B., Vialletelle, P., Bassetto, S., & Tollenaere, M. (novembre 2010). Operational risk evaluation and control plan design [Communication écrite]. 13th ARCSIS Technical & Scientific Meeting, Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs, Rousset, France. |
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