Mhamed Sahnoun, Philippe Vialletelle, Soidri Bastoini, Samuel Bassetto
, Michel Tollenaere
Communication écrite (2010)
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ISBN:
9784990413835
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM 2010)
Lieu de la conférence:
Tokyo, Japan
Date(s) de la conférence:
2010-10-18 - 2010-10-20
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:17657
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:14
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:20
Citer en APA 7:
Sahnoun, M., Vialletelle, P., Bastoini, S., Bassetto, S., & Tollenaere, M. (octobre 2010). Optimized return on inspection through smart-sampling [Communication écrite]. International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM 2010), Tokyo, Japan. https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5750233&isnumber=5750172
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