Mhamed Sahnoun, Philippe Vialletelle, Soidri Bastoini, Samuel Bassetto
et Michel Tollenaere
Communication écrite (2010)
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/17657/ |
|---|---|
| Nom de la conférence: | International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM 2010) |
| Lieu de la conférence: | Tokyo, Japan |
| Date(s) de la conférence: | 2010-10-18 - 2010-10-20 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| URL officielle: | https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&ar... |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:14 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:59 |
| Citer en APA 7: | Sahnoun, M., Vialletelle, P., Bastoini, S., Bassetto, S., & Tollenaere, M. (octobre 2010). Optimized return on inspection through smart-sampling [Communication écrite]. International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM 2010), Tokyo, Japan. https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=5750233&isnumber=5750172 |
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