M. 'hammed Sahnoun, Philippe Vialletelle, Samuel Bassetto
, Michel Tollenaere, Soidri Bastoini
Communication écrite (2010)
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Nom de la conférence:
Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs
Lieu de la conférence:
Rousset, France
Date(s) de la conférence:
2010-11-20
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:17656
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:14
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:20
Citer en APA 7:
Sahnoun, M. , Vialletelle, P., Bassetto, S., Tollenaere, M., & Bastoini, S. (novembre 2010). Historical wafer-at-risk construction in STMicroelectronics 300mm wafer fab in crollesoptimizing return on inspection through defectivity smart skipping [Communication écrite]. Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs, Rousset, France.
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