M. 'hammed Sahnoun, Philippe Vialletelle, Samuel Bassetto
, Michel Tollenaere et Soidri Bastoini
Communication écrite (2010)
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/17656/ |
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| Nom de la conférence: | Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs |
| Lieu de la conférence: | Rousset, France |
| Date(s) de la conférence: | 2010-11-20 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:14 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:59 |
| Citer en APA 7: | Sahnoun, M. , Vialletelle, P., Bassetto, S., Tollenaere, M., & Bastoini, S. (novembre 2010). Historical wafer-at-risk construction in STMicroelectronics 300mm wafer fab in crollesoptimizing return on inspection through defectivity smart skipping [Communication écrite]. Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs, Rousset, France. |
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