Ghaith Bany Hamad, Otmane Ait Mohamed, Syed Rafay Hasan et Yvon Savaria
Communication écrite (2012)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
---|---|
Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/15839/ |
Nom de la conférence: | IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2012) |
Lieu de la conférence: | Seoul, Korea, Republic of |
Date(s) de la conférence: | 2012-05-20 - 2012-05-23 |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/iscas.2012.6272020 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/iscas.2012.6272020 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:10 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:53 |
Citer en APA 7: | Bany Hamad, G., Ait Mohamed, O., Rafay Hasan, S., & Savaria, Y. (mai 2012). Identification of soft error glitch-propagation paths: Leveraging SAT solvers [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2012), Seoul, Korea, Republic of. https://doi.org/10.1109/iscas.2012.6272020 |
---|---|
Statistiques
Dimensions