Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto
, Philippe Vialletelle, Michel Tollenaere
Article de revue (2012)
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Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
International Journal of Production Research
(
vol.
50
,
no
23
)
Maison d'édition:
Taylor & Francis
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:15774
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:10
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:17
Citer en APA 7:
Bettayeb, B., Bassetto, S., Vialletelle, P., & Tollenaere, M. (2012). Quality and exposure control in semiconductor manufacturing. Part II: Evaluation. International Journal of Production Research, 50(23), 6852-6869. https://doi.org/10.1080/00207543.2011.630043
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