On extra delays affecting I/O blocks of an SRAM-based FPGA due to ionizing radiation

Fatima Zahra Tazi, Claude Thibeault, Yvon Savaria, Simon Pichette, Yves Audet

Article de revue (2014)

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Département:
Département de génie électrique
Unité de recherche:
GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/11503/
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Nuclear Science ( vol. 61 , no 6 )
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/tns.2014.2369417
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/tns.2014.2369417
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:11503
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:08
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:11
Citer en APA 7:
Tazi, F. Z., Thibeault, C., Savaria, Y., Pichette, S., & Audet, Y. (2014). On extra delays affecting I/O blocks of an SRAM-based FPGA due to ionizing radiation. IEEE Transactions on Nuclear Science, 61(6), 3138-3145. https://doi.org/10.1109/tns.2014.2369417

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