Fatima Zahra Tazi, Claude Thibeault, Yvon Savaria
, Simon Pichette et Yves Audet
Article de revue (2014)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| Centre de recherche: | GR2M - Groupe de recherche en microélectronique et microsystèmes |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/11503/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Nuclear Science (vol. 61, no 6) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/tns.2014.2369417 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tns.2014.2369417 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:08 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:50 |
| Citer en APA 7: | Tazi, F. Z., Thibeault, C., Savaria, Y., Pichette, S., & Audet, Y. (2014). On extra delays affecting I/O blocks of an SRAM-based FPGA due to ionizing radiation. IEEE Transactions on Nuclear Science, 61(6), 3138-3145. https://doi.org/10.1109/tns.2014.2369417 |
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