Documents dont l'auteur est "Hamel, Louis-André"
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Un nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Auteur ou autrice
Maassen, J., Yelon, A., Hamel, L.-A., & Chao Chen, W. (2005). Multiple-Trapping Model with Meyer-Neldel Effect and Field-Dependent Effects: Time-Of-Flight Simulations for a-Si:H. MRS Proceedings, 862. Lien externe
Chen, W. C., Kemp, M., Hamel, L.-A., & Yelon, A. (2000). Rapid Relaxation and Electronic Properties of a-Si : H. Journal of Non-Crystalline Solids, 277(2-3), 219-224. Lien externe
Chen, W. C., Hamel, L.-A., Kemp, M., & Yelon, A. (1999). Modelling of Drift Mobility Experiments on a-Si:H. MRS Proceedings, 557, 433-438. Lien externe
Chen, W. C., Hamel, L.-A., & Yelon, A. (1997). Monte Carlo simulations of Meyer-Neldel effect on carrier time-of-flight in a-Si:H. Journal of Non-Crystalline Solids, 220(2-3), 254-260. Lien externe
Directeur ou directrice de recherche
Maassen, J. (2006). Modélisation du transport par piégeage multiple de porteurs électroniques dans le silicium amorphe hydrogéné [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible