Monte Carlo simulations of Meyer-Neldel effect on carrier time-of-flight in a-Si:H

Wen Chao Chen, Louis-André Hamel, Arthur Yelon

Article de revue (1997)

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Département:
Département de génie physique
Unité de recherche:
GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/30597/
Titre de la revue :
Journal of Non-Crystalline Solids ( vol. 220 , no 2-3 )
Maison d'édition:
Elsevier
DOI:
10.1016/s0022-3093(97)00260-3
URL officielle:
https://doi.org/10.1016/s0022-3093%2897%2900260-3
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:30597
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:17
Citer en APA 7:
Chen, W. C., Hamel, L.-A., & Yelon, A. (1997). Monte Carlo simulations of Meyer-Neldel effect on carrier time-of-flight in a-Si:H. Journal of Non-Crystalline Solids, 220(2-3), 254-260. https://doi.org/10.1016/s0022-3093%2897%2900260-3

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