Monte Carlo simulations of Meyer-Neldel effect on carrier time-of-flight in a-Si:H

Chen W. Chao, L. A. Hamel et Arthur Yelon

Article de revue (1997)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/30597/
Titre de la revue:	Journal of Non-Crystalline Solids (vol. 220, no 2-3)
Maison d'édition:	Elsevier
DOI:	10.1016/s0022-3093(97)00260-3
URL officielle:	https://doi.org/10.1016/s0022-3093%2897%2900260-3
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:23
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:20

Citer en APA 7:	Chao, C. W., Hamel, L. A., & Yelon, A. (1997). Monte Carlo simulations of Meyer-Neldel effect on carrier time-of-flight in a-Si:H. Journal of Non-Crystalline Solids, 220(2-3), 254-260. https://doi.org/10.1016/s0022-3093%2897%2900260-3
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