Multiple-Trapping Model with Meyer-Neldel Effect and Field-Dependent Effects: Time-Of-Flight Simulations for a-Si:H

Jesse Maassen, Arthur Yelon, Louis-André Hamel et Wen Chao Chen

Article de revue (2005)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/55618/
Titre de la revue:	MRS Proceedings (vol. 862)
Maison d'édition:	Cambridge University Press
DOI:	10.1557/proc-862-a15.2
URL officielle:	https://doi.org/10.1557/proc-862-a15.2
Date du dépôt:	19 sept. 2023 14:10
Dernière modification:	05 avr. 2024 12:02

Citer en APA 7:	Maassen, J., Yelon, A., Hamel, L.-A., & Chao Chen, W. (2005). Multiple-Trapping Model with Meyer-Neldel Effect and Field-Dependent Effects: Time-Of-Flight Simulations for a-Si:H. MRS Proceedings, 862. https://doi.org/10.1557/proc-862-a15.2
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