Jesse Maassen, Arthur Yelon
, Louis-André Hamel, Wen Chao Chen
Article de revue (2005)
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Titre de la revue
:
MRS Proceedings
(
vol.
862
)
Maison d'édition:
Cambridge University Press
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:55618
ORCID
Date du dépôt:
19 sept. 2023 14:10
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:14
Citer en APA 7:
Maassen, J., Yelon, A., Hamel, L.-A., & Chao Chen, W. (2005). Multiple-Trapping Model with Meyer-Neldel Effect and Field-Dependent Effects: Time-Of-Flight Simulations for a-Si:H. MRS Proceedings, 862. https://doi.org/10.1557/proc-862-a15.2
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