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Maassen, J. (2006). Modélisation du transport par piégeage multiple de porteurs électroniques dans le silicium amorphe hydrogéné [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible
Maassen, J., Yelon, A., Hamel, L.-A., & Chao Chen, W. (2005). Multiple-Trapping Model with Meyer-Neldel Effect and Field-Dependent Effects: Time-Of-Flight Simulations for a-Si:H. MRS Proceedings, 862. Lien externe
