 | Monter d'un niveau |
Réseau de collaborationCe graphique trace les liens entre tous les collaborateurs des publications de {} figurant sur cette page.
Chaque lien représente une collaboration sur la même publication. L'épaisseur du lien représente le nombre de collaborations.
Utilisez la molette de la souris ou les gestes de défilement pour zoomer à l'intérieur du graphique.
Vous pouvez cliquer sur les noeuds et les liens pour les mettre en surbrillance et déplacer les noeuds en les glissant.
Enfoncez la touche "Ctrl" ou la touche "⌘" en cliquant sur les noeuds pour ouvrir la liste des publications de cette personne.
Beaudoin, F., Meunier, M., Simard-Normandin, M., & Landheer, D. (1998). Excimer Laser Cleaning of Silicon Wafer Backside Metallic Particles. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 16(3), 1976-1979. Lien externe
Boyer, N., Masson, D. P., Meunier, M., & Simard-Normandin, M. (mars 1999). FMI applied to the study of the temperature distribution in flip chips [Communication écrite]. 15th IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM 1999), San Diego, CA, USA. Lien externe
Meunier, M., Boughaba, S., Wu, X., Beaudoin, F., Sacher, E., & Simard-Normandin, M. (janvier 1998). Laser cleaning for microelectronics [Communication écrite]. 5th ACS Congress of North America. Non disponible
Simard-Normandin, M., Beaudoin, F., & Meunier, M. (avril 1998). Metallic contamination from particles on the backside of wafers [Communication écrite]. 6th Symposium on particles on surfaces: Detection, Adhesion, Removal, Dallas, TX. Lien externe
