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Réseau de collaborationCe graphique trace les liens entre tous les collaborateurs des publications de {} figurant sur cette page.
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Lu, M., Savaria, Y., Qiu, B., & Taillefer, J. (novembre 2003). IEEE 1149.1 based defect and fault tolerant scan chain for wafer scale integration [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. Lien externe
Lu, M. (2003). Defect tolerance methods and thermally induced skew analysis for wafer scale integration [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible
