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Documents dont l'auteur est "Lu, Meng"

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Lu, M. (2003). Defect tolerance methods and thermally induced skew analysis for wafer scale integration [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible

Lu, M., Savaria, Y., Qiu, B., & Taillefer, J. (novembre 2003). IEEE 1149.1 based defect and fault tolerant scan chain for wafer scale integration [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. Lien externe

Qiu, B., Savaria, Y., Lu, M., Wang, C., & Thibeault, C. (novembre 2002). Yield modeling of a WSI telecom router architecture [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2002), Vancouver, BC, Canada. Lien externe

Liste produite: Mon May 25 05:19:00 2026 EDT.