IEEE 1149.1 based defect and fault tolerant scan chain for wafer scale integration

Meng Lu, Yvon Savaria, Bing Qiu, Jacques Taillefer

Communication écrite (2003)

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Département:
Département de génie électrique
ISBN:
0769520421
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/35588/
Nom de la conférence:
18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003)
Lieu de la conférence:
Boston, MA, United states
Date(s) de la conférence:
2003-11-03 - 2003-11-05
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/dftvs.2003.1250091
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250091
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:35588
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:20
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:25
Citer en APA 7:
Lu, M., Savaria, Y., Qiu, B., & Taillefer, J. (novembre 2003). IEEE 1149.1 based defect and fault tolerant scan chain for wafer scale integration [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250091

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