Meng Lu, Yvon Savaria
, Bing Qiu et Jacques Taillefer
Communication écrite (2003)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/35588/ |
| Nom de la conférence: | 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003) |
| Lieu de la conférence: | Boston, MA, United states |
| Date(s) de la conférence: | 2003-11-03 - 2003-11-05 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/dftvs.2003.1250091 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250091 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:20 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:28 |
| Citer en APA 7: | Lu, M., Savaria, Y., Qiu, B., & Taillefer, J. (novembre 2003). IEEE 1149.1 based defect and fault tolerant scan chain for wafer scale integration [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. https://doi.org/10.1109/dftvs.2003.1250091 |
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