<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Documents dont l'auteur est "Jordan-Sweet, Jean"

Monter d'un niveau
Pour citer ou exporter [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Grouper par: Auteurs ou autrices | Date de publication | Sous-type de document | Aucun groupement
Aller à : 2013 | 2010
Nombre de documents: 3

2013

Gaudet, S., De Keyser, K., Lambert-Milot, S., Jordan-Sweet, J., Detavernier, C., Lavoie, C., & Desjardins, P. (2013). Three dimensional reciprocal space measurement by x-ray diffraction using linear and area detectors: Applications to texture and defects determination in oriented thin films and nanoprecipitates. Journal of vacuum science and technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 31(2). Lien externe

2010

Zhang, Z., Yang, B., Zhu, Y., Gaudet, S., Rossnagel, S., Kellock, A. J., Ozcan, A., Murray, C., Desjardins, P., Zhang, S.-L., Jordan-Sweet, J., & Lavoie, C. (2010). Exploitation of a self-limiting process for reproducible formation of ultrathin Ni1-xPtx silicide films. Applied Physics Letters, 97(25), 252108-252108. Lien externe

Zhang, Z., Zhang, S.-L., Yang, B., Zhu, Y., Rossnagel, S. M., Gaudet, S., Kellock, A. J., Jordan-Sweet, J., & Lavoie, C. (2010). Morphological stability and specific resistivity of sub-10 nm silicide films of Ni1-xPtx on Si substrate. Applied Physics Letters, 96(7), 071915-071915. Lien externe

Liste produite: Mon Dec 30 04:41:50 2024 EST.