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Réseau de collaborationCe graphique trace les liens entre tous les collaborateurs des publications de {} figurant sur cette page.
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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Shanoun, M., Bassetto, S., Bastoini, S., & Vialetelle, P. (2011). Optimization of the process control in a semiconductor company, model and case study of defectivity sampling. International Journal of Production Research, 49(13), 3873-3890. Lien externe
Sahnoun, M. , Vialletelle, P., Bassetto, S., Tollenaere, M., & Bastoini, S. (novembre 2010). Historical wafer-at-risk construction in STMicroelectronics 300mm wafer fab in crollesoptimizing return on inspection through defectivity smart skipping [Communication écrite]. Manufacturing Challenges in European Semiconductor Fabs, Rousset, France. Non disponible
Sahnoun, M., Vialletelle, P., Bastoini, S., Bassetto, S., & Tollenaere, M. (octobre 2010). Optimized return on inspection through smart-sampling [Communication écrite]. International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM 2010), Tokyo, Japan. Lien externe
