M. Shanoun, Samuel Bassetto
, Soidri Bastoini, P. Vialetelle
Article de revue (2011)
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Département:
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Titre de la revue
:
International Journal of Production Research
(
vol.
49
,
no
13
)
Maison d'édition:
Taylor & Francis
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:16176
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:12
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:18
Citer en APA 7:
Shanoun, M., Bassetto, S., Bastoini, S., & Vialetelle, P. (2011). Optimization of the process control in a semiconductor company, model and case study of defectivity sampling. International Journal of Production Research, 49(13), 3873-3890. https://doi.org/10.1080/00207543.2010.484429
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