Optimization of the process control in a semiconductor company, model and case study of defectivity sampling

M. Shanoun, Samuel Bassetto, S. Bastoini et P. Vialetelle

Article de revue (2011)

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Département:	Département de mathématiques et de génie industriel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/16176/
Titre de la revue:	International Journal of Production Research (vol. 49, no 13)
Maison d'édition:	Taylor & Francis
DOI:	10.1080/00207543.2010.484429
URL officielle:	https://doi.org/10.1080/00207543.2010.484429
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:12
Dernière modification:	05 avr. 2024 10:57

Citer en APA 7:	Shanoun, M., Bassetto, S., Bastoini, S., & Vialetelle, P. (2011). Optimization of the process control in a semiconductor company, model and case study of defectivity sampling. International Journal of Production Research, 49(13), 3873-3890. https://doi.org/10.1080/00207543.2010.484429
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