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Nuage de motsUn nuage de mots est une représentation visuelle des mots les plus fréquemment utilisés dans un texte ou un ensemble de textes. Les mots apparaissent dans différentes tailles, la taille de chaque mot étant proportionnelle à sa fréquence d'apparition dans le texte. Plus un mot est utilisé fréquemment, plus il apparaît en grand dans le nuage de mots. Cette technique permet de visualiser rapidement les thèmes et les concepts les plus importants d'un texte.
Dans le contexte de cette page, le nuage de mots a été généré à partir des publications de l'auteur {}. Les mots présents dans ce nuage proviennent des titres, résumés et mots-clés des articles et travaux de recherche de cet auteur. En analysant ce nuage de mots, vous pouvez obtenir un aperçu des sujets et des domaines de recherche les plus récurrents et significatifs dans les travaux de cet auteur.Le nuage de mots est un outil utile pour identifier les tendances et les thèmes principaux dans un corpus de textes, facilitant ainsi la compréhension et l'analyse des contenus de manière visuelle et intuitive.
Bouchard, H., Azelmad, A., Currie, J. F., Meunier, M., Blain, S., & Darwall, T. (avril 1993). Thermal Stress in Doped Silicate Glasses (B,P) Deposited by PECVD and LPCVD [Communication écrite]. 1993 MRS Spring Meeting, San Francisco, CA. Publié dans MRS Proceedings, 308. Lien externe
Bouchard, H., Azelmad, A., Currie, J. F., & Meunier, M. (1992). Variation de la contrainte des verres de silice sous cycle thermique. [Variations of the stress of silicon glass during annealing]. Canadian Journal of Physics, 70(10-11), 830-833. Lien externe
Brebner, J. L., Cochrane, R. W., Groleau, R., Gujrathi, S., Kéroack, D., Lépine, Y., Martín, J. P., Vanaček, M., Aktik, Ç., Aktik, M., Azelmad, A., Currie, J. F., Poulin-Dandurand, S., Ranchoux, B., Sacher, E., Tannous, C., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1985). Progress in amorphous-silicon photovoltaic-device research. Canadian Journal of Physics, 63(6), 786-797. Lien externe
Lu, Z. H., Azelmad, A., Trudeau, Y., & Yelon, A. (1989). Damage profile of ion-implanted GaAs by x-ray photoelectron spectroscopy. Applied Physics Letters, 55(9), 846-848. Lien externe
