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Documents dont l'auteur est "Azelmad, A."

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Nombre de documents: 4

Bouchard, H., Azelmad, A., Currie, J. F., Meunier, M., Blain, S., & Darwall, T. (avril 1993). Thermal Stress in Doped Silicate Glasses (B,P) Deposited by PECVD and LPCVD [Communication écrite]. 1993 MRS Spring Meeting, San Francisco, CA. Publié dans MRS Proceedings, 308. Lien externe

Bouchard, H., Azelmad, A., Currie, J. F., & Meunier, M. (1992). Variation de la contrainte des verres de silice sous cycle thermique. [Variations of the stress of silicon glass during annealing]. Canadian Journal of Physics, 70(10-11), 830-833. Lien externe

Lu, Z. H., Azelmad, A., Trudeau, Y., & Yelon, A. (1989). Damage profile of ion-implanted GaAs by x-ray photoelectron spectroscopy. Applied Physics Letters, 55(9), 846-848. Lien externe

Brebner, J. L., Cochrane, R. W., Groleau, R., Gujrathi, S., Kéroack, D., Lépine, Y., Martín, J. P., Vanaček, M., Aktik, Ç., Aktik, M., Azelmad, A., Currie, J. F., Poulin-Dandurand, S., Ranchoux, B., Sacher, E., Tannous, C., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1985). Progress in amorphous-silicon photovoltaic-device research. Canadian Journal of Physics, 63(6), 786-797. Lien externe

Liste produite: Wed Jan 14 04:56:32 2026 EST.