 | Monter d'un niveau |
Monté-Genest, G., Antaki, B., Patenaude, S., Savaria, Y., Thibeault, C., & Trouborst, P. (avril 2001). Tools for the characterization of bipolar CML testability [Communication écrite]. 19th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2001), Marina Del Rey, CA, USA. Lien externe
Adham, S. M. I., Savaria, Y., Antaki, B., & Xiong, N. (2000). Voltage excursion detection apparatus. (Brevet no US6100716). Lien externe
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