Bernard Antaki, Yvon Savaria
, Saman Adham, Nanhan Xiong, D. Borrione, R. Ernst
Communication écrite (1999)
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Renseignements supplémentaires:
Nom historique du département: Département de génie électrique et de génie informatique
ISBN:
0769500781
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 1999)
Lieu de la conférence:
Munich, Germany
Date(s) de la conférence:
1999-03-09 - 1999-03-12
Maison d'édition:
IEEE Comput. Soc
Autres DOI associés à ce document:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:29177
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:22
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:06
Citer en APA 7:
Antaki, B., Savaria, Y., Adham, S., Xiong, N., Borrione, D., & Ernst, R. (mars 1999). Design for testability method for CML digital circuits [Communication écrite]. Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 1999), Munich, Germany. https://doi.org/10.1109/date.1999.761146
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