Statistical Performance Analysis Framework for Bundled‐Data Asynchronous Circuits With Dynamic Voltage Scaling

Maryem Benyoussef, Claude Thibeault et Yvon Savaria

Article de revue (2026)

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Département:	Département de génie électrique
Organismes subventionnaires:	Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada (NSERC)
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/76156/
Titre de la revue:	IET Computers & Digital Techniques (vol. 2026, no 1)
Maison d'édition:	Institution of Engineering and Technology
DOI:	10.1049/cdt2/1529127
URL officielle:	https://doi.org/10.1049/cdt2/1529127
Date du dépôt:	27 avr. 2026 16:38
Dernière modification:	27 avr. 2026 16:38

Citer en APA 7:	Benyoussef, M., Thibeault, C., & Savaria, Y. (2026). Statistical Performance Analysis Framework for Bundled‐Data Asynchronous Circuits With Dynamic Voltage Scaling. IET Computers & Digital Techniques, 2026(1), 17 pages. https://doi.org/10.1049/cdt2/1529127
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