Maryem Benyoussef, Claude Thibeault, Yvon Savaria
Article de revue (2026)
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Département:
Organismes subventionnaires:
Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada (NSERC)
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IET Computers & Digital Techniques
(
vol.
2026
,
no
1
)
Maison d'édition:
Institution of Engineering and Technology
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:76156
ORCID
Date du dépôt:
27 avr. 2026 16:38
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:37
Citer en APA 7:
Benyoussef, M., Thibeault, C., & Savaria, Y. (2026). Statistical Performance Analysis Framework for Bundled‐Data Asynchronous Circuits With Dynamic Voltage Scaling. IET Computers & Digital Techniques, 2026(1), 17 pages. https://doi.org/10.1049/cdt2/1529127
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