Yvon Savaria
, Claude Thibeault
Communication écrite (1993)
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Département:
ISBN:
0818641509
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Workshop on Memory Testing (MT 1993)
Lieu de la conférence:
San Jose, CA, United states
Date(s) de la conférence:
1993-08-09 - 1993-08-10
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75655
ORCID
Date du dépôt:
17 avr. 2026 12:24
Dernière modification:
08 oct. 2026 19:06
Citer en APA 7:
Savaria, Y., & Thibeault, C. (août 1993). An inexpensive method of detecting localised parametric defects in static RAM [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Memory Testing (MT 1993), San Jose, CA, United states. https://doi.org/10.1109/mt.1993.263143
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