Yvon Savaria
et Claude Thibeault
Communication écrite (1993)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| ISBN: | 0818641509 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/75655/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Workshop on Memory Testing (MT 1993) |
| Lieu de la conférence: | San Jose, CA, United states |
| Date(s) de la conférence: | 1993-08-09 - 1993-08-10 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/mt.1993.263143 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/mt.1993.263143 |
| Date du dépôt: | 17 avr. 2026 12:24 |
| Dernière modification: | 17 avr. 2026 12:24 |
| Citer en APA 7: | Savaria, Y., & Thibeault, C. (août 1993). An inexpensive method of detecting localised parametric defects in static RAM [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Memory Testing (MT 1993), San Jose, CA, United states. https://doi.org/10.1109/mt.1993.263143 |
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