Mémoire de maîtrise (2003)
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|---|---|
| Département: | Département de génie électrique |
| Directeurs ou directrices: |
Yvon Savaria et Chunyan Wang
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| ISBN: | 0612979644; 9780612979642 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/7498/ |
| Université/École: | École Polytechnique de Montréal |
| Date du dépôt: | 04 août 2021 11:05 |
| Dernière modification: | 27 sept. 2024 12:06 |
| Citer en APA 7: | Lu, M. (2003). Defect tolerance methods and thermally induced skew analysis for wafer scale integration [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7498/ |
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