Monter d'un niveau |
Lu, M. (2003). Defect tolerance methods and thermally induced skew analysis for wafer scale integration [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible
Robert, M. (2004). Étude des convertisseurs analogique à numérique en virgule flottante : performance théorique [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible