Yves Blaquière, Gabriel Gagné, Yvon Savaria
et Claude Évéquoz
Communication écrite (1995)
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| Département: | Département de génie électrique |
|---|---|
| ISBN: | 0818671076 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/74208/ |
| Nom de la conférence: | IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1995) |
| Lieu de la conférence: | Lafayette, LA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1995-11-13 - 1995-11-15 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/dftvs.1995.476952 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/dftvs.1995.476952 |
| Date du dépôt: | 22 avr. 2026 10:01 |
| Dernière modification: | 22 avr. 2026 10:01 |
| Citer en APA 7: | Blaquière, Y., Gagné, G., Savaria, Y., & Évéquoz, C. (novembre 1995). Cost analysis of a new algorithmic-based soft-error tolerant architecture [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1995), Lafayette, LA, USA. https://doi.org/10.1109/dftvs.1995.476952 |
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