Yves Blaquière, Gabriel Gagné, Yvon Savaria
, Claude Évéquoz
Communication écrite (1995)
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Département:
ISBN:
0818671076
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1995)
Lieu de la conférence:
Lafayette, LA, USA
Date(s) de la conférence:
1995-11-13 - 1995-11-15
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74208
ORCID
Date du dépôt:
22 avr. 2026 10:01
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:35
Citer en APA 7:
Blaquière, Y., Gagné, G., Savaria, Y., & Évéquoz, C. (novembre 1995). Cost analysis of a new algorithmic-based soft-error tolerant architecture [Communication écrite]. IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 1995), Lafayette, LA, USA. https://doi.org/10.1109/dftvs.1995.476952
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