Eduard Cerny, El Mostapha Aboulhamid, Guy Bois
et Jocelyn Cloutier
Article de revue (1988)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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| Département: | Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| Organismes subventionnaires: | Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada (NSERC) |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/74120/ |
| Titre de la revue: | IEEE Design & Test of Computers (vol. 5, no 4) |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/54.7968 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/54.7968 |
| Date du dépôt: | 13 avr. 2026 10:37 |
| Dernière modification: | 13 avr. 2026 10:37 |
| Citer en APA 7: | Cerny, E., Aboulhamid, E. M., Bois, G., & Cloutier, J. (1988). Built-in self-test of a CMOS ALU. IEEE Design & Test of Computers, 5(4), 38-48. https://doi.org/10.1109/54.7968 |
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