Built-in self-test of a CMOS ALU

Eduard Cerny, El Mostapha Aboulhamid, Guy Bois, Jocelyn Cloutier

Article de revue (1988)

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Mots clés

Département:
Département de génie informatique et génie logiciel
Organismes subventionnaires:
Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada (NSERC)
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/74120/
Titre de la revue :
IEEE Design & Test of Computers ( vol. 5 , no 4 )
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/54.7968
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/54.7968
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74120
ORCID
Date du dépôt:
13 avr. 2026 10:37
Dernière modification:
29 oct. 2026 19:52
Citer en APA 7:
Cerny, E., Aboulhamid, E. M., Bois, G., & Cloutier, J. (1988). Built-in self-test of a CMOS ALU. IEEE Design & Test of Computers, 5(4), 38-48. https://doi.org/10.1109/54.7968

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