Mémoire de maîtrise (2004)
 Document en libre accès dans PolyPublie |
|
Libre accès au plein texte de ce document Version officielle de l'éditeur Conditions d'utilisation: Tous droits réservés Télécharger (8MB) |
Afficher le résumé
Cacher le résumé
Mots clés
Ordinateurs -- Mémoires; Tolérance aux fautes (Informatique); Circuits intégrés -- Tolérance aux fautes
| Renseignements supplémentaires: | Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/63705050 |
|---|---|
| Département: | Département de génie électrique |
| Directeurs ou directrices: |
Yvon Savaria
|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/7386/ |
| Université/École: | École Polytechnique de Montréal |
| Date du dépôt: | 04 août 2021 11:05 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2024 09:37 |
| Citer en APA 7: | Ghattas, N. (2004). Built-in self-test and self-repair architecture for defect-tolerant word-oriented large capacity memories [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7386/ |
|---|---|
Statistiques
Total des téléchargements à partir de PolyPublie
Téléchargements par année
Provenance des téléchargements
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
