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Une plateforme de mesure de caractéristiques électroniques pour les nanostructures

Olivier Duval

Masters thesis (2005)

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Cite this document: Duval, O. (2005). Une plateforme de mesure de caractéristiques électroniques pour les nanostructures (Masters thesis, École Polytechnique de Montréal). Retrieved from https://publications.polymtl.ca/7364/
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Abstract

Nanostructures -- Mesures de précision -- Mesures à effectuer -- Système électronique de mesure et contrôle -- Intégration de nanostructures -- Modèles de transitors -- Modèle de données expérimentales traités avec le programme -- Programme de génération de paramètres pour le modèle C. & E. -- Caractérisation par simulation des structure de test.

Uncontrolled Keywords

Nanostructures -- Propriétés électriques -- Mesure

Open Access document in PolyPublie
Additional Information: Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/63466248
Department: Département de génie électrique
Date Deposited: 04 Aug 2021 11:05
Last Modified: 25 Aug 2021 14:58
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/7364/

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