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Une plateforme de mesure de caractéristiques électroniques pour les nanostructures

Olivier Duval

Master's thesis (2005)

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Nanostructures -- Propriétés électriques -- Mesure

Additional Information: Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/63466248
Department: Department of Electrical Engineering
Academic/Research Directors: Yvon Savaria
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/7364/
Institution: École Polytechnique de Montréal
Date Deposited: 04 Aug 2021 11:05
Last Modified: 08 Apr 2024 09:37
Cite in APA 7: Duval, O. (2005). Une plateforme de mesure de caractéristiques électroniques pour les nanostructures [Master's thesis, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7364/

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