Mémoire de maîtrise (2005)
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Mots clés
Nanostructures -- Propriétés électriques -- Mesure
| Renseignements supplémentaires: | Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada |
|---|---|
| Département: | Département de génie électrique |
| Directeurs ou directrices: |
Yvon Savaria
|
| ISBN: | 0494013109; 9780494013106 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/7364/ |
| Université/École: | École Polytechnique de Montréal |
| Date du dépôt: | 04 août 2021 11:05 |
| Dernière modification: | 03 oct. 2024 22:39 |
| Citer en APA 7: | Duval, O. (2005). Une plateforme de mesure de caractéristiques électroniques pour les nanostructures [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7364/ |
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