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Une plateforme de mesure de caractéristiques électroniques pour les nanostructures

Olivier Duval

Mémoire de maîtrise (2005)

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Mots clés

Nanostructures -- Propriétés électriques -- Mesure

Renseignements supplémentaires: Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/63466248
Département: Département de génie électrique
Directeurs ou directrices: Yvon Savaria
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/7364/
Université/École: École Polytechnique de Montréal
Date du dépôt: 04 août 2021 11:05
Dernière modification: 03 oct. 2024 22:39
Citer en APA 7: Duval, O. (2005). Une plateforme de mesure de caractéristiques électroniques pour les nanostructures [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7364/

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