<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Characterization of integrated MOS circuits under voltage stress and application to power conversion chains of electronic implants

Seyed Saeid Hashemi Aghcheh Body

Mémoire de maîtrise (2004)

Document en libre accès dans PolyPublie
[img]
Affichage préliminaire
Libre accès au plein texte de ce document
Version officielle de l'éditeur
Conditions d'utilisation: Tous droits réservés
Télécharger (7MB)
Afficher le résumé
Cacher le résumé

Mots clés

MOS (Électronique); Circuits intégrés

Renseignements supplémentaires: Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/58053253
Département: Département de génie électrique
Directeurs ou directrices: Mohamad Sawan et Yvon Savaria
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/7315/
Université/École: École Polytechnique de Montréal
Date du dépôt: 04 août 2021 11:05
Dernière modification: 26 juil. 2023 12:06
Citer en APA 7: Hashemi Aghcheh Body, S. S. (2004). Characterization of integrated MOS circuits under voltage stress and application to power conversion chains of electronic implants [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7315/

Statistiques

Total des téléchargements à partir de PolyPublie

Téléchargements par année

Provenance des téléchargements

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document