Seyed Saeid Hashemi Aghcheh Body
Mémoire de maîtrise (2004)
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| Renseignements supplémentaires: | Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada |
|---|---|
| Département: | Département de génie électrique |
| Directeurs ou directrices: |
Mohamad Sawan et Yvon Savaria
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| ISBN: | 0612908704; 9780612908703 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/7315/ |
| Université/École: | École Polytechnique de Montréal |
| Date du dépôt: | 04 août 2021 11:05 |
| Dernière modification: | 27 sept. 2024 21:09 |
| Citer en APA 7: | Hashemi Aghcheh Body, S. S. (2004). Characterization of integrated MOS circuits under voltage stress and application to power conversion chains of electronic implants [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7315/ |
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