Seyed Saeid Hashemi Aghcheh Body
Mémoire de maîtrise (2004)
|
Libre accès au plein texte de ce document Version officielle de l'éditeur Conditions d'utilisation: Tous droits réservés Télécharger (7MB) |
Renseignements supplémentaires: | Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/58053253 |
---|---|
Département: | Département de génie électrique |
Directeurs ou directrices: |
Mohamad Sawan |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/7315/ |
Université/École: | École Polytechnique de Montréal |
Date du dépôt: | 04 août 2021 11:05 |
Dernière modification: | 06 avr. 2024 22:56 |
Citer en APA 7: | Hashemi Aghcheh Body, S. S. (2004). Characterization of integrated MOS circuits under voltage stress and application to power conversion chains of electronic implants [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/7315/ |
---|---|
Statistiques
Total des téléchargements à partir de PolyPublie
Téléchargements par année
Provenance des téléchargements