Automatic test point insertion for pseudo-random testing

Yvon Savaria, M. Youssef, Bożena Kamińska et M. Koudil

Communication écrite (1991)

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Département:	Département de génie électrique
ISBN:	0780300505
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/72153/
Nom de la conférence:	International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991)
Lieu de la conférence:	Singapore
Date(s) de la conférence:	1991-06-11 - 1991-06-14
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/iscas.1991.176793
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/iscas.1991.176793
Date du dépôt:	05 févr. 2026 15:07
Dernière modification:	05 févr. 2026 15:07

Citer en APA 7:	Savaria, Y., Youssef, M., Kamińska, B., & Koudil, M. (juin 1991). Automatic test point insertion for pseudo-random testing [Communication écrite]. International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1991), Singapore. https://doi.org/10.1109/iscas.1991.176793
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