Heuristic prediction of the optimum number of spares in defect-tolerant integrated circuits

Claude Thibeault, Yvon Savaria et J. L. Houle

Article de revue (1992)

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Département:	Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/70909/
Titre de la revue:	Journal of Circuits Systems and Computers (vol. 02, no 02)
Maison d'édition:	World Scientific
DOI:	10.1142/s0218126692000088
URL officielle:	https://doi.org/10.1142/s0218126692000088
Date du dépôt:	18 déc. 2025 15:59
Dernière modification:	18 déc. 2025 15:59

Citer en APA 7:	Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J. L. (1992). Heuristic prediction of the optimum number of spares in defect-tolerant integrated circuits. Journal of Circuits Systems and Computers, 02(02), 81-100. https://doi.org/10.1142/s0218126692000088
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