Claude Thibeault, Yvon Savaria
, J. L. Houle
Article de revue (1992)
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Titre de la revue
:
Journal of Circuits Systems and Computers
(
vol.
02
,
no
02
)
Maison d'édition:
World Scientific
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:70909
ORCID
Date du dépôt:
18 déc. 2025 15:59
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:31
Citer en APA 7:
Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J. L. (1992). Heuristic prediction of the optimum number of spares in defect-tolerant integrated circuits. Journal of Circuits Systems and Computers, 02(02), 81-100. https://doi.org/10.1142/s0218126692000088
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