<  Back to the Polytechnique Montréal portal

Analyse de l'interface Cu/Téflon AF1600 par spectroscopie des photoélectrons rayons X

Dan Popovici

PhD thesis (1997)

[img]
Preview
Published Version
Terms of Use: All rights reserved.
Download (10MB)
Cite this document: Popovici, D. (1997). Analyse de l'interface Cu/Téflon AF1600 par spectroscopie des photoélectrons rayons X (PhD thesis, École Polytechnique de Montréal). Retrieved from https://publications.polymtl.ca/6830/
Show abstract Hide abstract

Abstract

Dépôt de cuivre sur téflon AF -- Méthodes expérimentales de dépôt -- Techniques d'analyse de surface.

Open Access document in PolyPublie
Additional Information: Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/46577422
Department: Département de génie physique
Date Deposited: 04 Aug 2021 11:06
Last Modified: 25 Aug 2021 14:57
PolyPublie URL: https://publications.polymtl.ca/6830/

Statistics

Total downloads

Downloads per month in the last year

Origin of downloads

Repository Staff Only