Sudarshan Singh, L. Montpetit, Guillaume Nadal, Mahmoud Atalla, Eloïse Rahier, Sebastian Koelling et Oussama Moutanabbir
Résumé (2024)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| ISBN: | 9798350388152 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/62728/ |
| Nom de la conférence: | IEEE Nuclear Science Symposium (NSS 2024), Medical Imaging Conference (MIC 2024) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD 2024) |
| Lieu de la conférence: | Tampa, FL, USA |
| Date(s) de la conférence: | 2024-10-26 - 2024-11-02 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/nss/mic/rtsd57108.2024.10658438 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/nss/mic/rtsd57108.2024.106... |
| Date du dépôt: | 14 févr. 2025 14:31 |
| Dernière modification: | 14 févr. 2025 14:31 |
| Citer en APA 7: | Singh, S., Montpetit, L., Nadal, G., Atalla, M., Rahier, E., Koelling, S., & Moutanabbir, O. (octobre 2024). Impact of Br-etching on surface and current-voltage characteristics of CZT detector [Résumé]. IEEE Nuclear Science Symposium (NSS 2024), Medical Imaging Conference (MIC 2024) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD 2024), Tampa, FL, USA. https://doi.org/10.1109/nss/mic/rtsd57108.2024.10658438 |
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