Louis Puech, Ambre Dupuis, Camélia Dadouchi
et Robert Pellerin
Communication écrite (2024)
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| Département: | Département de mathématiques et de génie industriel |
|---|---|
| ISBN: | 9798350376968 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/59336/ |
| Nom de la conférence: | 2024 IEEE 48th Annual Computers, Software, and Applications Conference (COMPSAC 2024) |
| Lieu de la conférence: | Osaka, Japan |
| Date(s) de la conférence: | 2024-07-02 - 2024-07-04 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/compsac61105.2024.00044 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/compsac61105.2024.00044 |
| Date du dépôt: | 24 sept. 2024 16:18 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:52 |
| Citer en APA 7: | Puech, L., Dupuis, A., Dadouchi, C., & Pellerin, R. (juillet 2024). Applied Data Analytics Approach for Defect Root Causes Analysis in Manufacturing: The Case of Multi-Product Assembly Lines [Communication écrite]. 2024 IEEE 48th Annual Computers, Software, and Applications Conference (COMPSAC 2024), Osaka, Japan. https://doi.org/10.1109/compsac61105.2024.00044 |
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