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Documents dont l'auteur est "Puech, Louis"

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Puech, L., Dupuis, A., Dadouchi, C., & Pellerin, R. (juillet 2024). Applied Data Analytics Approach for Defect Root Causes Analysis in Manufacturing: The Case of Multi-Product Assembly Lines [Communication écrite]. 2024 IEEE 48th Annual Computers, Software, and Applications Conference (COMPSAC 2024), Osaka, Japan. Lien externe

Puech, L. (2022). Méthode d'analyse causale des défauts sur une ligne d'assemblage multiproduit [Mémoire de maîtrise, Polytechnique Montréal]. Disponible

Liste produite: 17 avril 2025 à 07 h 51.